【ラプチャーディスクのトラブルについて】（9）ラプチャーディスクの腐食

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ラプチャーディスクのトラブルについて

1. 運転中もしくは気密試験中にラプチャーディスクが破裂してしまったら。

（9）ラプチャーディスクの腐食

【対象型式: 全型式】

腐食は、過早破裂に繋がることは容易に判ります。単に流体に対しての腐食を考慮するのであればラプチャーディスクの素材を耐食金属にすれば良いのですが、その他に応力腐食割れ(SCC)、隙間腐食等の電気腐食、配管からのもらい錆、例は極僅かですがエロージョン・コロージョン等も検討しなくてはなりません。この腐食に関しては、弊社とユーザーの情報交換を密にして対処する必要があります。ユーザーのご協力をお願いいたします。

テフロンのシールを使用した、HO,HOV,PLHO,PLHOV型では流体の浸透(透過)により金属ディスクが腐食される場合もありますので、流体の浸透性を考慮する必要性がありますが、データが少なく苦慮するところです。ユーザーのご協力をお願いいたします。

腐れ代を持たないディスクにとって、腐食は天敵です。種々の情報のご提供をお願いいたします。